Produit de l’année pour le test, la mesure et l’inspection dans le cadre des Electronics Industry Awards 2023

Features

• L’écran tactile de 5 pouces prend en charge les modes d’affichage graphique et numérique.
• Combine les capacités de six appareils en un seul : Source de tension, source de courant, multimètre numérique 6 ½ (DCV, DCI, ohms), simulateur de batterie, charge électronique et générateur d’impulsions.
• Intégration des capacités d’approvisionnement et de mesure du quadrant 4, et prise en charge des mesures bifilaires et quadrifilaires
• Résolution jusqu’à 10fA/100nV, taux d’échantillonnage jusqu’à 10us.
• Trois modes d’affichage graphique : Graphique, Scope et Record.
• Fonction de simulateur de batterie intégrée, adaptée aux mesures de précision de l’IOT à faible consommation d’énergie
• Capacité de balayage : Linéaire/Log/Log pulsé AR/Log pulsé et LIST
• Conception à canaux multiples et opérations simultanées, avec capacité de test en parallèle
• Fonctions intégrées de mesure de la résistance, de la puissance et des mathématiques
• Avec la fonction de sortie GUARD, adaptée à la mesure de faibles courants
• Port USB frontal utilisé pour le stockage de données, la capture d’écran ou l’importation de configurations de test
• Interface de communication Digital IO/USB/LAN intégrée

Applications

• Dispositifs semi-conducteurs discrets
• Dispositifs passifs
• Dispositifs de suppression des transitoires
• Diodes laser
• TVS
• Varistances

Le logiciel de test paramétrique des semi-conducteurs SPS5000 est désormais disponible

Le logiciel de test paramétrique des semi-conducteurs ITECH SPS5000, associé à l’unité de mesure de source de haute précision IT2800, rationalise les tests de semi-conducteurs pour la caractérisation IV des dispositifs et l’évaluation paramétrique. Le SPS5000 prend en charge différents modes de test, notamment le balayage DC, le balayage par impulsions, le balayage simple et le balayage bidirectionnel. Son interface graphique intuitive permet aux laboratoires universitaires, aux fournisseurs de semi-conducteurs et aux instituts de recherche d’effectuer des tests de caractérisation des dispositifs semi-conducteurs de manière rapide et efficace, sans avoir besoin de connaissances en programmation. Le logiciel SPS5000 comprend des éléments de test prêts à l’emploi pour divers dispositifs à semi-conducteur tels que les MOSFET, les BJT, les diodes et les résistances.

Features

• L’interface graphique intuitive simplifie la configuration des mesures, la caractérisation I-V et l’analyse des données.
• Éléments de test prêts à l’emploi pour les MOSFET, les BJT, les diodes et les résistances pour un rappel rapide
• La fonction de séquence de test automatisée permet l’exécution continue de tests de paramètres multiples pour les appareils*1
• Le tracé interactif des données en temps réel accélère l’examen des résultats des tests.
• Le mode de test rapide permet de tester simultanément jusqu’à 32 objets sous test.
• Base de données intégrée pour un stockage et un rappel rapides des données et des graphiques
• Outils puissants d’analyse graphique, y compris la mise à l’échelle automatique et les opérations sur les lignes
• Capacités multiples de l’axe Y avec des paramètres configurables et des types d’échelle pour les axes Y et X
• Fonction de test personnalisé*2
• Compatible avec Windows 7 ou les systèmes d’exploitation ultérieurs
• Support de test IT-E803 disponible pour les tests de diodes et de MOSFET de faible puissance (42V/1A)
• Compatible avec les SMU de la série IT2800, avec une résolution minimale jusqu’à 100nV/10fA