Marvin Test Solutions propose les sous-systèmes de test numérique PXI les plus performants de l’industrie. Offrant des capacités de pointe telles que la synchronisation par broche, des capacités PMU intégrées par broche, un nombre élevé de canaux et des ensembles de temps multiples avec un placement de front de 1 ns, l’instrumentation numérique de MTS peut répondre à une large gamme d’applications pour le test des semi-conducteurs, des modules et des systèmes.
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